GB/T 21636-2008 微束分析 电子探针显微分析 (EPMA) 术语

标  准  编  号：GB/T 21636-2008 
简体中文标题：微束分析 电子探针显微分析 (EPMA) 术语
繁體中文標題：微束分析 電子探針顯微分析 (EPMA) 術語
English  Name：Microbeam analysis - Electron Probe Micro Analysis (EPMA) - Vocabulary

标准简介：
本标准定义了电子探针显微分析(EPMA)实践中使用的术语,包括一般概念的术语和按技术等级分类的具体概念的术语。
本标准适用于所有有关电子探针显微分析(EPMA)实践的标准化文件,部分适用于相关领域[例如:扫描电子显微镜(SEM),分析电子显微镜(AEM),X射线能谱仪等]的标准化文件,用于定义共用的术语。